本文標題:偏光顯微觀察與礦物質的檢測

偏光顯微觀察與礦物質的檢測

對于偏光顯微鏡來說，它主要是由機械部件與光學部件
以及照明系統組合而成的。

因此我們可以說前透鏡愈小則顯微觀察時鏡頭就愈長，
同時顯微觀察時的放大倍數就愈大。

對于晶體物質表面上的解理與解理角，則是一種地晶體
表面上沿著一定方向裂開而形成的光滑的平面的性質稱
為解理。

因此對于七色光波吸收的不同程度就會出現不同的顏色
，這樣在透射后出現晶體顏色仍然是白光，只是光的強
度有所變化，而對于這種情況下人們稱為無色晶體。

而對于晶體中心一條比較亮的細線就是貝克線，當貝克
線發生則是由于相鄰兩個物質折射率的不同在通過表面
時發生折射反射后引起的貝克線的規律。

將本頁加入收藏

下一篇：偏光顯微鏡有解理面與試板 　　　　　 上一篇：使用顯微鏡檢測晶體物質的形態是什么

本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.telgp.cn/xinwen/1865.html 　
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科