本文標(biāo)題:顯微檢測晶體表面的突起產(chǎn)生的原因
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-10-21 11:08:42
顯微檢測晶體表面的突起產(chǎn)生的原因
通常情況下我們對于晶體物質(zhì)表面上凹凸不平的一個(gè)
比較粗糙的晶體表面進(jìn)行顯微檢測時(shí)，光通過晶體凹
凸不平的表面時(shí)產(chǎn)生的折射率不相同。
在這樣的情況下就說明了晶體物質(zhì)表面上有突起，而
這種晶體物質(zhì)突起則是一種晶體的折射率的不同，而
不同的折射率則代表頭上不同的折射率。
因此通常我們在使用偏光顯微鏡進(jìn)行顯微檢測時(shí)，對
于晶體物質(zhì)表面光能在偏振表面上產(chǎn)生晶體突起的原
因，則是由于晶體和空氣中的折射率相差不大的情況
下產(chǎn)生一個(gè)比較大的折射。
因此在這種情況下晶體物質(zhì)表面底面的點(diǎn)就會(huì)比原來
晶質(zhì)表面的位置要高，就時(shí)光通過晶體表面時(shí)光線就
會(huì)產(chǎn)生一個(gè)比較大的折射率。
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