本文標題:顯微鏡中的晶體試樣在進行電鏡觀察
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-7-4 16:00:19
顯微鏡中的晶體試樣在進行電鏡觀察
顯微鏡中的晶體試樣在進行電鏡觀察時，由于各處晶體取向不同
和晶體結(jié)構(gòu)不同，滿足布拉格條件的程度不同。
使得顯微鏡對應試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面
形成一個隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍
射襯度。
這種顯微鏡可的襯度對晶體結(jié)構(gòu)和取向十分敏感，當試樣中某處
含有晶體缺陷時。
將本頁加入收藏
下一篇：顯微鏡衍襯相位襯度
上一篇：顯微鏡中的非晶樣品的象襯度
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.telgp.cn/xinwen/958.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
